IEEEAR - Noticiero
El Boletín Electrónico de IEEE Argentina
Año 19 - Nº 15 - 18 de Agosto de 2011

1. --- IEEE AR EDS - SSCS - Seminario 'Semiconductor Reliability Topics for Advanced CMOS Technologies'
El Capítulo Conjunto de las Sociedades IEEE EDS - Electron Devices y SSCS - Solid State Circuits invita al Seminario del Dr. Fernando Guarín, IEEE Fellow y Conferencista Distinguido IEEE EDS, que se realizará el martes 23 de agosto de 2011 en el INTI, Buenos Aires, según se detalla a continuación.
La disertación de Dr. Guarín será en Castellano.

Seminario: Semiconductor Reliability Topics for Advanced CMOS Technologies

Abstract
As we continue the relentless drive towards smaller semiconductor device feature sizes and higher levels of integration at the chip level, it has become increasingly evident that a judicious review and a very complete understanding of the reliability mechanisms that contribute to the degradation of each of the technology elements will be crucial for the successful development of the most advanced leading edge technologies.

The increased device count and process complexity, coupled with ever decreasing margins in voltage, geometry and the incorporation of new material systems like high and low k dielectrics, stress/strain layers, and other limiting factors will be discussed from the reliability perspective. A closer look will be given to Hot Carriers, Bias Temperature Instabilities and statistical variations (process and geometric).

This talk will present the reliability issues driven by the latest trends and state of the art in semiconductor fabrication; it will also present the considerations necessary with a practical approach to the qualification methodology required for advanced CMOS technologies while providing a review of the specifications and implications of the above mentioned reliability mechanisms. The impact of reliability induced parameter degradation and the mitigation of these effects will be studied for practical circuits through the analysis of switching behavior and SRAM applications. The characterization, models and methodology will be put in the required perspective for the successful technology transfer of leading edge technologies to a manufacturing environment.

Disertante: Fernando Guarín
Dr. Guarin works as a Senior Engineer/Scientist at the IBM Microelectronics Semiconductor Research Development Center SRDC in East Fishkill N.Y. His current job is as team leader for the qualification of the 14nm technology.
He received his BSEE from the Pontificia Universidad Javeriana, in Bogotá, Colombia; the MSEE degree from the University of Arizona, and the PhD in Electrical Engineering form Columbia University, NY.
His doctoral research studied the Molecular Beam Epitaxial growth of Silicon based alloys for device applications.
He has been actively working in microelectronic reliability for over 30 years.
From 1980 until 1988 he was a member of the Military and Aerospace Operations division of National Semiconductor Corporation where he held positions both in engineering and management.
In 1988 he joined the IBM Microelectronics Division where he has worked in the reliability physics and modeling of Advanced Bipolar, CMOS and Silicon Germanium BiCMOS technologies.
He has been the team leader for the qualification of several of IBM’s leading edge CMOS and SiGe technologies.
He holds 9 patents, one trade secret, has published more than 65 papers and delivered 4 tutorials at the IEEE’s International Reliability Physics Symposium.
Dr. Guarín is an IEEE Fellow, Distinguished Lecturer for the IEEE Electron Device Society and a member of the IEEE EDS Ad.Com and Education Committees.
He is the past Chair for the Electron Devices Society in the IEEE’s MHV Chapter, and past president of the Society of Hispanic Professional Engineers SHPE for the Mid Hudson Valley Region.

Fecha y hora: Martes 23 de Agosto de 2011, a partir de las 10:00
Lugar: Campus del INTI Instituto Nacional de Tecnología Industrial, Electrónica e Informática
Av. General Paz 5445, sobre Colectora Lado Provincia, San Martín, Buenos Aires, Argentina
http://www.inti.gob.ar/
Consultas e inscripción:   sergiobaron@yahoo.com
Este Seminario no es arancelado y se dictará en Castellano.

2. --- IEEE AR - El Capítulo Conjunto de las Sociedades IEEE 'Electron Devices' y 'Solid State Circuits'
El Capítulo Conjunto de las Sociedades IEEE EDS - Electron Devices y SSCS - Solid State Circuits invita a los interesados en las áreas técnicas de estas Sociedades a formar parte de su membrecía, asociándose al IEEE y a una o ambas Sociedades, y a participar en la organización y desarrollo de las actividades del Capítulo.

Para más información sobre dichas Sociedades, pueden visitar las respectivas páginas web
- http://eds.ieee.org/
- http://sscs.ieee.org/

La Comisión Directiva 2011 del Capítulo Conjunto EDS-SSCS está integrada por Sergio Barón, Presidente; Ariel Cédola, Vicepresidente y Marcelo Cappelletti, Tesorero.
Los interesados pueden comunicarse con ellos a través de sergiobaron@yahoo.com ó sec.argentina@ieee.org

Para información sobre membresía en IEEE y en sus Sociedades, los interesados pueden consultar
- http://www.ieee.org/membership_services/membership/join/emember_join.html
- http://www.ieee.org/membership_services/membership/join/index.html   (estudiantes)
ó comunicarse con nuestro Coordinador de Membresía, Pablo Sánchez  p.sanchez@ieee.org

3. --- IEEE AR RE UBA – Primer Competencia de Robots Velocistas
El Club de Robótica de la Facultad de Ingeniería de la UBA, en conjunto con la Rama Estudiantil IEEE de la UBA, anuncian la realización de su Primer Competencia de Robots Velocistas.

El objetivo de la competición es diseñar y construir un robot seguidor de líneas autónomo, que complete un circuito preestablecido en el menor tiempo posible.
Nuestra competencia tiene un enfoque diferenciado. Queremos que el torneo sirva como vidriera para los diseños de los robots, y que se pueda utilizar cualquier tecnología para su desarrollo. Por eso estamos dando libertad en la elección de los micros y en el uso de kits. Para mayor detalle se recomienda leer el reglamento que se encuentra en la web.

Invitamos a participar a todos los estudiantes de último año de escuela secundaria, estudiantes universitarios y a todas las personas interesadas.

Fecha: Sábado 20 de agosto de 2011
Lugar: Facultad de Ingeniería de la UBA, Av. Paseo Colón 850, Ciudad de Buenos Aires
Web:  http://www.clubderobotica.com.ar/carrera2011

4. --- TICs 2011 -  Del 23 al 25 de agosto de 2011, en Buenos Aires
En el marco de TICs 2011, un nuevo evento exclusivo de Tecnología y Negocios que se llevará a cabo en el Hotel Hilton Buenos Aires, del 23 al 25 de agosto próximos, CICOMRA organiza el 'Congreso de Comunicaciones, Internet y Tecnologías de la Información'.
Este Congreso se desarrollará los días 23 y 24 de agosto, bajo el título 'El Impacto de las Nuevas Tecnologías en los Negocios y en la Sociedad', y en él  representantes destacados de organizaciones internacionales y locales, académicos y líderes de las grandes empresas del sector que operan en la Argentina, compartirán su visión y experiencia sobre la situación actual y las oportunidades que brindan las TICs a nivel mundial y en nuestro país en particular.

El programa del Congreso incluye los siguientes temas
Martes 23 de Agosto - Los Negocios en la Nube
Visiones sobre un Nuevo Paradigma
El Valor de la Informacion
El Mundo de las Aplicaciones
Miércoles 24 de Agosto - La Nube y sus Ecosistemas
Las Redes
Eficiencia de la Infraestructura
Convergencia y Movilidad
El programa completo y detallado del Congreso puede ser consultado en la página web de CICOMRA  http://www.cicomra.org.ar  o en la de TICs  http://www.tics2011.com.ar.
Los interesados en participar del Congreso y de TICs 2011 encontrarán la información completa sobre ambos eventos en las página web antes mencionadas.
La inscripción a TICs 2011 incluye acceso libre a la Exposición, coffee breaks, material de apoyo y traducción simultánea.
Para inscribirse u obtener más información, los interesados también pueden comunicarse, de lunes a viernes de 9:00 a 19:00 al teléfono (011) 4132 8015 ó por e-mail a tics2011@clienting.com.ar

TICs es coorganizada por CICOMRA, la Cámara de Informática y Comunicaciones de la República Argentina y por Reed Exhibitions.

5. --- IEEE RE UTN FRBA – Jornada de órganos artificiales
El GIBIO Grupo de Investigación y Desarrollo en Bioingenieria de la UTN FRBA junto con la  Rama Estudiantil IEEE de la UTN-FRBA organizan una ‘Jornada de órganos artificiales, estudio de materiales de arterias y válvulas cardíacas humanas’.

Se trata de un encuentro interdisciplinario que se inscribe en el campo de la ingeniería biomédica, en el que participan tres exponentes internacionales de primer nivel y tres investigadores nacionales.
Se expondrán los resultados de investigaciones recientes y se desarrollarán, en forma breve y completa, los aspectos fundamentales de los avances en el desarrollo de órganos artificiales.
Se realizará un panel de cierre en el cual se podrá preguntar a los oradores sobre la temática abordada.

Esta Jornada está dirigida a ingenieros, investigadores, docentes, becarios de investigación, estudiantes avanzados de ingeniería, bioingenieros, ingenieros biomédicos, médicos y áreas afines del conocimiento.

Se entregarán certificados oficiales de asistencia
La asistencia al evento otorga créditos al Doctorado en Ingeniería, Mención Procesamiento de Señales e Imágenes, de la UTN FRBA

Fecha: Miércoles 24 de Agosto 2011
Lugar: UTN – FRBA, Medrano 951, Buenos Aires
Actividad no arancelada
Inscripciones: http://www.frba.utn.edu.ar/ramaieee/#jornadas_bio
Consultas: ramaieee@frba.utn.edu.ar

6. --- SADIO - 40ª JAIIO - Jornadas Argentinas de Informática
SADIO recuerda que está abierta la inscripción a las 40 JAIIO, 40º Jornadas Argentinas de Informática, que tendrán lugar en la UTN de la ciudad de Córdoba entre el 29 de agosto y el 02 de septiembre próximos.
Toda la información acerca de la inscripción, formulario, aranceles, alojamiento, además del listado de los diferentes Simposios temáticos y el Programa completo de las 40 JAIIO, está disponible en la web de las JAIIO:
http://www.40jaiio.org.ar

7. --- IEEE AR CC#1, UNMdP, ITBA - Primer Encuentro de Investigación en Electrónica de Potencia
El Primer Encuentro de Investigación en Electrónica de Potencia es un espacio para la discusión y difusión de los proyectos de investigación sobre electrónica de potencia, su control y aplicaciones, que se desarrollan actualmente en el país.
El objetivo de este evento es facilitar el intercambio de experiencias entre grupos de investigación de diferentes universidades e instituciones del país, en el área de la electrónica de potencia y sus aplicaciones.
En el Encuentro se realizarán disertaciones sobre los proyectos de cada grupo de investigación sobre esta temática en la Argentina, favoreciéndose la discusión de los mismos entre los asistentes.
El Comité Organizador los espera en el Aula Magna de la Facultad de Ingeniería de la Universidad Nacional de Mar del Plata el 19 y 20 de Septiembre de 2011.

Para cualquier consulta dirigirse a:
Laboratorio de Instrumentación y Control (UNMdP),
Tel: +54 223 481-6600 ext. 254 - FAX: +54 223 481-0046
Dr. Ing. Sergio Alejandro González - sagonzal@fi.mdp.edu.ar
Dr. Ing. Cristian Hernán De Angelo - cdeangelo@ieee.org
Ing. Miguel Aguirre - maguir@itba.edu.ar

Este Encuentro está organizado por el Laboratorio de Instrumentación y Control, Facultad de Ingenieria, Universidad Nacional de Mar del Plata, el ITBA Instituto Tecnológico de Buenos Aires y el Capítulo Argentino Conjunto #1 (CSS, IAS, IES, PELS, RAS, VTS).

8.--- IEEE AR CC#1 – Conferencia: ‘Diagnóstico de fallas incipientes en máquinas eléctricas’
El Capítulo Argentino Conjunto #1 (CSS, IAS, IES, PELS, RAS, VTS) informa que el Ciclo de Conferencias que se está realizando en la Univ. Nacional de San Luis en Villa Mercedes (San Luis) continuará con la Conferencia ‘Diagnóstico de fallas incipientes en máquinas eléctricas’, que dictará el Dr. Ing. Guillermo Rubén Bossio el próximo viernes 7 de octubre de 2011.
Para información completa e inscripción en esta Conferencia, ver:
http://meetings.vtools.ieee.org/meeting_view/list_meeting/7455

Como parte del Ciclo, ya se dictaron las conferencias ‘Vehículos eléctricos e híbridos’ del Dr. Ing. Cristian Hernán De Angelo (10 de junio) y ‘Convertidores CC-CC elevadores reductores bidireccionales de potencia’ del Dr. Ing. German Gustavo Oggier (5 de agosto).
El Ciclo concluirá el 2 de diciembre con la  Conferencia * ‘Energía eólica de alta potencia’ del Dr. Ing. Guillermo Oscar García ( http://meetings.vtools.ieee.org/meeting_view/list_meeting/7457 )

9. --- IEEE AR SPS - Conferencia 'The Bootstrap Paradigm in Signal Processing'
El Capítulo Argentino de la IEEE SPS Signal Processing Society invita a la Conferencia 'The Bootstrap Paradigm in Signal Processing' que brindará Abdelhak Zoubir, Conferencista Distinguido de la IEEE SPS, el lunes 17 de octubre de 2011 a partir de las 18:00, en la sede de IEEE/CICOMRA.
Esta conferencia se dictará en idioma inglés, y es de acceso libre y gratuito con inscripción previa, según se detalla a continuación.

Conferencia: The Bootstrap Paradigm in Signal Processing

Abstract
The use of more accurate models in signal processing applications such as communications, radar, sonar, biomedical engineering, speech and image processing and machine learning has become a fundamental requirement.
With an improved accuracy the models have become more complex and inferential statistical signal processing required in parameter estimation and signal detection and classification, for example, has become intractable.
The signal processing practitioner requires a simple but accurate method for assessing errors of estimates and answering inferential questions.
Asymptotic approximations are useful only when enough data is available, which is not always possible due to time constraints, the nature of the signal or the measurement setting. In place of the formulae and tables of parametric and non-parametric procedures based on complicated mathematics and asymptotic approximations, tools such as the bootstrap are powerful for solving complex engineering problems.
It is the method of an engineer's choice for solving inferential signal processing problems, such as signal detection, confidence limits estimation and model selection, to mention a few.
In this talk, we first give a brief overview of the the basic principle underlying the bootstrap methodology. We then discuss bootstrap techniques for independent as well as dependent data. Bootstrap methods for signal detection and model selection are presented along with frequency domain bootstrap methods for spectral analysis. Real-data examples are given throughout the talk.

Speaker: Abdelhak M. Zoubir
Abdelhak M. Zoubir is a Fellow of the IEEE and IEEE Distinguished Lecturer (2010- 2011).
He received his Dr.-Ing. from Ruhr- Universität Bochum, Germany in 1992.
He was with Queensland University of Technology, Australia from 1992-1998 where he was Associate Professor.
In 1999, he joined Curtin University of Technology, Australia as a Professor of Telecommunications and was Interim Head of the School of Electrical& Computer Engineering from 2001 until 2003.
In 2003, he moved to Technische Universität Darmstadt, Germany as Professor of Signal Processing and Head of the Signal Processing Group.
His research interest lies in statistical methods for signal processing with emphasis on bootstrap techniques, robust detection and estimation and array processing applied to telecommunications, radar, sonar, car engine monitoring and biomedicine.
He published over 300 journal and conference papers on these areas.
Professor Zoubir was Technical Chair of the 11th IEEE Workshop on Statistical Signal Processing (SSP 2001), General Co-Chair of the 3rd IEEE International Symposium on Signal Processing&
Information Technology (ISSPIT 2003) and of the 5th IEEE Workshop on Sensor Array and Multi-channel Signal Processing (SAM 2008).
He is the Technical Co-Chair of ICASSP-14 to be held in Florence, Italy.
Dr Zoubir was an Associate Editor of the IEEE Transactions on Signal Processing from 1999-2005 and he currently serves on the Editorial Boards of the EURASIP journals Signal Processing and the Journal on Advances in Signal Processing (JASP).
Since 2009 he has been a Member of the Senior Editorial Board of the IEEE Journal on Selected Topics in Signal Processing.
Dr Zoubir is the Chair (2010-2011) of the IEEE SPS Technical Committee Signal Processing Theory and Methods and a Member of the IEEE SPS Technical Committee Sensor Array and Multi-channel Signal Processing (SAM) (since 2007).
He also serves on the Board of Directors of the European Association of Signal Processing (EURASIP).
He was the Guest Co-Editor of 3 special issues on topics in statistical signal processing, one of which is on the bootstrap that appeared in the IEEE Signal Processing Magazine in 2007.

* Esta conferencia se dictará en idioma inglés
* Fecha y hora: Lunes 17 de octubre de 2011, de 18:00 a 21:00
* Lugar: Auditorio IEEE/CICOMRA, Av. Córdoba 744, Piso 1 B, Buenos Aires
* Inscripción: Esta actividad es de acceso libre y gratuito con inscripción previa, completando el formulario disponible en
http://www.ieee.org.ar/sistemainscripciones/InscripcionSolicitud.asp?idevento=87
Alternativamente:
- por e-mail a sec.argentina@ieee.org citando 'Conferencia SPS - Zoubir’, indicando un teléfono de contacto, si es o no socio IEEE y si es estudiante o profesional
- por teléfono a IEEE / CICOMRA (011) 4325 8839

10. --- IEEE AR SPS - Conferencia 'Wavelet tools for scaling processes'
El Capítulo Argentino de la IEEE SPS Signal Processing Society invita a la Conferencia 'Wavelet tools for scaling processes' que brindará Patrick Flandrin, Conferencista Distinguido de la IEEE SPS, el lunes 14 de noviembre de 2011 a partir de las 18:00, en la sede de IEEE/CICOMRA.
Esta conferencia se dictará en idioma inglés, y es de acceso libre y gratuito con inscripción previa, según se detalla a continuación.

Conferencia: 'Wavelet tools for scaling processes'

Abstract
Thanks to their built-in multiresolution structure, wavelets appear as a natural tool for evidencing scaling properties in signals and processes.
This has led to a flourishing activity over the last 20 years, with methodological advances and applications in many domains.
The purpose of this lecture is twofold.
It is first intended to discuss what is meant by "scaling" and to present the many associated concepts (scale invariance, self-similarity, fractality, multifractality, etc.).
The second goal is, based on a brief overview of wavelets basics, to show why and how wavelet-based tools can be used for assessing scaling behaviours in actual data and estimating the associated parameters.

Speaker: Patrick Flandrin
Patrick Flandrin is a Fellow of the IEEE and IEEE Distinguished Lecturer.
He received the engineer degree from ICPI Lyon, France, in 1978, and the Doct.-Ing. and Docteur d'Etat degrees from INP Grenoble, France, in 1982 and 1987, respectively.
He joined CNRS in 1982, where he is currently a Research Director.
Since 1991, he has been with the Signals, Systems, and Physics Group, Physics Department, Ecole Normale Supérieure de Lyon, France.
Prof. Flandrin has been a major contributor to the theory of (bilinear) Time-Frequency representations and non-stationary signal analysis. He played a major role in the developments of the wavelet theory and the analysis of fractional Brownian motion. Recently, he opened a new research direction studying the Empirical Mode Decomposition and revisiting stationarity with significant contributions on stationarity tests.
Prof. Flandrin is author of the book titled, Time-Frequency/Time-Scale Analysis and has authored more than 250 journal and conference proceeding research articles.
Prof. Flandrin received several research awards including Philip Morris Prize in Mathematics (1991); SPIE Wavelet Pioneer Award (2001); "Prix Michel Monpetit" from the French Academy of Sciences (2001); and Silver Medal from CNRS (2010).
Prof. Flandrin has served as a guest co-editor of the Special Issue ``Wavelets and Signal Processing" of the IEEE Transactions on Signal Processing (1993); Technical Program Chairman, IEEE-International Symposium on Time-Frequency and Time-Scale Analysis (1994); and Program Chairman, French GRETSI Symposium on Signal and Image Processing, every two years since 2001. He has been Associate Editor, IEEE Transactions on Signal Processing (1990-93, 2008-present); and Associate Editor, EURASIP Signal Processing (1994-05).
Prof. Flandrin is currently on the Editorial Board of Applied and Computational Harmonic Analysis, The Journal of Fourier Analysis and Applications, Signal Image and Video Processing, and Advances in Adaptive Data Analysis.
He has also been Member, IEEE Signal Processing Theory and Methods Technical Committee (1993-04).
Prof. Flandrin spent one semester in Cambridge, UK, as an invited long-term resident of the Isaac Newton Institute for Mathematical Sciences (1998).
Finally, Prof. Flandrin is a Fellow of the IEEE (2002) and of EURASIP (2009)

* Esta conferencia se dictará en idioma inglés
* Fecha y hora: Lunes 14 de noviembre de 2011, de 18:00 a 21:00
* Lugar: Auditorio IEEE/CICOMRA, Av. Córdoba 744, Piso 1 B, Buenos Aires
* Inscripción: Esta actividad es de acceso libre y gratuito con inscripción previa, completando el formulario disponible en
http://www.ieee.org.ar/sistemainscripciones/InscripcionSolicitud.asp?idevento=88
Alternativamente:
- por e-mail a sec.argentina@ieee.org citando 'Conferencia SPS - Flandrin’, indicando un teléfono de contacto, si es o no socio IEEE y si es estudiante o profesional
- por teléfono a IEEE / CICOMRA (011) 4325 8839

11. --- BIEL - Bienal Internacional de la Industria Eléctrica, Electrónica y Luminotécnica y 12º Congreso Técnico Internacional
BIEL Light+Building Buenos Aires 2011, la Bienal Internacional de la Industria Eléctrica, Electrónica y Luminotécnica, tendrá lugar del 8 al 12 de Noviembre de 2011 en La Rural, Predio Ferial de Buenos Aires.
Simultáneamente se realizará el 12º Congreso Técnico Internacional para la Industria Eléctrica, Electrónica y Luminotécnica.
Más información: http://www.biel.com.ar

12. --- FACET UNT - Conferencia 'Nuevas Estrategias en el Aprendizaje de Redes Neuronales mediante el uso de Algoritmos Constructivos'
El próximo 25 de agosto, en la Facultad de Ciencias Exactas y Tecnología de la Universidad Nacional de Tucumán, se llevará a cabo una Conferencia del Dr. Leonardo Franco, según se describe a continuación.
Esta Conferencia está organizada por la Carrera de Ingeniería en Computación, FACET, UNT, con el auspicio del Capítulo Argentino de la IEEE CIS Computational Intelligence Society y de la Rama Estudiantil IEEE de la UNT.

Conferencia: 'Nuevas Estrategias en el Aprendizaje de Redes Neuronales mediante el uso de Algoritmos Constructivos'

Temario
- Redes Neuronales
- Algoritmos Constructivos
- Sobreentrenamiento
- Aprendizaje Activo
- Filtrado de Ruidos

Casos de Estudio
- Estudio de las propiedades de generalización y aplicación de redes neuronales artificiales
- Análisis de datos y predicción de supervivencia en  cáncer de mama
- Neurociencia computacional

Disertante
Dr. Leonardo Franco, Depto. de Lenguajes y Ciencias de la Computación, Universidad de Málaga, España

Fecha y hora: Jueves 25 de agosto, desde las 10:00
Lugar: Sala de Audiovisuales, Block Decanato, 1er Piso, FACEyT - UNT
Centro Herrera de la Universidad Nacional de Tucumán (Ex Quinta Agronomica)
San Miguel de Tucumán
Información e Inscripciones: Facultad de Ciencias Exactas y Tecnología UNT, 4to Piso Block Docencia, Box IEEE o al e-mail juarez.gustavo@gmail.com
Esta actividad es de Entrada Libre y Gratuita.

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