IEEE AR Noticiero
El Boletín Electrónico de IEEE Argentina
Suplemento de Actividades Técnicas Nro 3/2005
14 de Abril de 2005

IEEE Argentina tiene el agrado de invitarle al Seminario SEC-01 - "Análisis de Datos de Confiabilidad y Supervivencia, o ¿Cuánto Durarán Mi Tostadora y el Marcapasos?" que dictará el Dr. Wayne Nelson el próximo Miércoles 20 de Abril de 2005, de 18:30 a 20:30 hs, en el Auditorio de IEEE / CICOMRA (Avenida Córdoba 744, 1° piso, oficina "B", Buenos Aires, Argentina).
Este Seminario se dictará en Español y la asistencia al mismo es libre y gratuita para todo interesado, pero agradeceremos inscripción previa según se indica más abajo.
El Dr. Nelson les invita a los participantes a que le acompañen después del seminario para cenar o tomar una copa y conversar.

Temario:
Se describirán diferentes métodos para analizar datos de confiabilidad y supervivencia, hacia la mejora del diseño, desarrollo, ensayo, fabricación, y gestión de productos para hacerlos más confiables y de menor costo.
Específicamente, se mostrará como:
- utilizar métodos gráficos y computadoras para analizar datos de ensayos y servicio para estimar la confiabilidad de productos y predecir los costos de fallas y garantías,
- determinar si la confiabilidad de un producto sobrepasa o no un requerimiento especificado,
- comparar la confiabilidad de productos de varios diseños, proveedores, materiales, etc.
- obtener información a partir de datos de reparaciones (o de eventos recurrentes), lo cual requiere métodos novedosos.
Estos métodos serán expuestos incluyendo aplicaciones a productos de varias industrias.

Dirigido a:
Estudiantes y profesionales que trabajen en áreas relacionadas con la confiabilidad de productos o datos de supervivencia.

Disertante:
El Dr. Wayne Nelson es experto en Análisis de Datos de Confiabilidad y de Ensayos Acelerados.
Trabajó en el Research and Development Center de General Electric Co. durante 23 años. Actualmente es Asesor Privado y asesora y capacita a muchas empresas, sociedades profesionales, y universidades en Aplicaciones Ingenieriles de la Estadística.
Es Fellow del IEEE, la American Society for Quality (ASQ) y la American Statistical Association.
Por sus aportes al Análisis de Datos de Confiabilidad y de Ensayos Acelerados, la ASQ le otorgó la Medalla Shewhart en 2004 y la IEEE Reliability Society le otorgó su Lifetime Achievement Award en 2005.
Ganó también los premios Brumbaugh, Wilcoxon, y Youden de la ASQ y ocho premios de la ASA para exposiciones destacadas.
Es autor de tres libros y de más de 120 publicaciones.
Más información en: http://www.members.aol.com/WNconsult/

Inscripción:
La entrada es libre y gratuita, pero agradeceremos inscripción previa (Referencia Seminario SEC-01) a través de alguna de estas direcciones:
* E-mail: sec.argentina@ieee.org
* Tel: +54 (11) 4325 8839
* Fax: +54 (11) 4325 9604
* Personalmente, en la Sede de IEEE / CICOMRA (Lu-Vi de 9:00 a 18:00)
Av. Córdoba 744, 2° piso, oficina "D", Buenos Aires, Argentina.

Para más información sobre las Actividades de IEEE Argentina,
novedades y actualizaciones de último momento,
recuerde visitar nuestra pagina web http://www.ieee.org.ar


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